當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 芯片表征設(shè)備 > 膜厚測量儀 > 薄膜測厚儀

薄膜測厚儀

簡要描述：薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點(diǎn)，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺配合，實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測量。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-06-04
訪問量：2474

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

芯片表征設(shè)備

三維形貌儀膜厚測量儀

查看全部

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子

產(chǎn)品名稱：薄膜測厚儀

主要技術(shù)指標(biāo)：

測量范圍（VIS）：15nm—100μm

測量重復(fù)性（RMS）：0.086nm

測量精度（與橢偏儀對比）：0.25nm

測量層數(shù)：大于3層

使用光源：鹵素?zé)簦?

入射角度：90°

測試材料：透明或半透明薄膜材料；

光斑尺寸：20μm—3mm（可選）

測量時(shí)間：100ms—4ms；

通信接口：USB2.0

產(chǎn)品特點(diǎn)：

采用光譜干涉原理進(jìn)行測量，具有非接觸、無破壞、快速等特點(diǎn)；

可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺配合，實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測量。

薄膜測厚儀測試數(shù)據(jù)：

薄膜測厚儀設(shè)備組成：

測試主機(jī)、光纖、校正件、測量頭、夾持裝置、設(shè)備箱、手提電腦。

產(chǎn)品咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：Harrick等離子清洗機(jī)
下一篇：微納結(jié)構(gòu)三維形貌測量儀

安徽智微科技有限公司

地址：安徽省合肥市經(jīng)開區(qū)尚澤大都會(huì)A座2214

郵箱：1053185136@qq.com

傳真：

快速鏈接

關(guān)注我們

歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號了解更多信息：

歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號
了解更多信息

国产精品入口免费视频,亚洲欧美日韩中文字幕在线不卡,亚洲男人天堂2014,日韩a无吗一区二区三区

薄膜測厚儀

薄膜測厚儀測試數(shù)據(jù)：

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：